ミリ波帯域製品設計を支援
高周波/高速伝送特性測定サービス
比誘電率・誘電正接測定システム（DkDf測定システム）販売
ミリ波帯域電子機器（5G、6G、車載レーダ他）向け電子材料の物性値（DkDf・導電率・伝送損失）を取得。
プリント基板材料を中心とした各周波数・温度での特性測定と伝送特性シミュレーションにより製品設計を支援。
材料メーカ様の顧客訴求やエンドユーザ製品適用をサポートします。
ミリ波帯域の高精度測定が容易にできる自社製比誘電率・誘電正接測定システム（DkDf測定システム）【平衡形円板共振器】の販売も行っております。詳細はカタログダウンロードをご覧ください。
特長
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広い周波数・温度範囲でのDkDf測定によるエンドユーザへの訴求
自社開発の平衡形円板共振器により使用環境に近い条件での測定が可能。
- 周波数：
- 10GHz～120GHz
- 温度：
- -55℃～+150℃
- 測定物：
- 平行平板状の誘電体
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高品質な材料物性値（Dk/Df/導電率）の提供による回路シミュレーション精度向上
製品設計活用に向け、高周波・高速伝送機器・デバイス開発に携わったエンジニアが対応。
シミュレーション連携で製品設計に使える高精度なデータを提供。 -
評価基板準備から物性測定結果の分析まで一貫サポート
測定方法のご提案や伝送損失評価基板の設計・調達をサポート。
測定結果の分析・考察のお手伝いも致します。
サービス詳細
- 電子材料のミリ波帯域までの比誘電率(Dk)、誘電正接(Df)、導電率の測定サービス
- プリント板の伝送特性評価基板の設計、調達、測定のサービス
| 測定種類 | 測定対象 | 測定方法 | 周波数帯域 | 温度範囲 |
|---|---|---|---|---|
| 比誘電率・誘電正接測定 （Dk・Df測定） [厚み方向] |
誘電体 | 平衡型円板共振器法（BCDR） IEC 63185（2020）準拠 |
10GHz～120GHz | -55℃～+150℃ |
| 比誘電率・誘電正接測定 （Dk・Df測定） [平面方向] |
誘電体 | 空洞共振器法 IEC 62562,JIS R 1641準拠 |
9,12,18,24,33GHz | 常温 |
| 遮断円筒導波管法 IEC 61338-1-4,JIS R 1660-1準拠 |
33,36,50,60,80GHz | |||
| 表面比導電率 界面比導電率 |
導体 | 平衡型円板共振器法（BCDR） | 10GHz～100GHz | 常温 |
| 誘電体円柱共振器法 IEC 61338-1-3,JIS R 1627 IEC61788-7, JIS H 7307準拠 |
5,10,20,30GHz | 常温 | ||
| 伝送特性測定 ※設計、プリント板調達も対応 |
プリント板 | ネットワークアナライザーによる Sパラメータ測定 |
10MHz～110GHz | -55℃～+150℃ |
適用例
比誘電率（Dk）および誘電正接（Df）の温度特性測定 [平衡形円板共振器法]
- サンプル：基材
- 測定システム
- 測定結果
表面比導電率・界面比導電率測定 [誘電体円柱共振器法]
- サンプル：銅箔
- 測定システム
- 測定結果
伝送損失測定の実測及びシミュレーション
周波数毎の材料物性
高精度な物性値測定により、実測とSimが一致（一致率：96％）
お客様の声
素材メーカ様の声
- 素材の異方性(厚さ方向・平面方向)で誘電率の把握が出来ました。
- 広範囲の周波数帯域(低周波から高周波)で温度特性データが取得して頂き、最適な材料提案をエンドユーザ様に出来ました。
- "表面粗さ"ではなく[表面比導電率]で銅箔を採用判定が出来ました。
- 商品の性能を把握でき、お客様に明確なご提案が出来ました。
エンドユーザー様の声
- 伝送損失測定結果からの導電率算出が不要になり、シミュレーションの精度が向上しました。
- 設計～試作～検証の繰り返しによる時間短縮・費用削減が実現出来ました。
- 短納期のご対応を頂きまして有難うございます。